全光科技(北京)有限公司
Optics Application Co.,Ltd

18515286999
产品详情

ST400型三维表面形貌仪

品牌 : NANOVEA
产品介绍

    ST400型三维表面形貌仪是一款多功能的三维形貌仪,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器可用于测量大尺寸样品,并具有多种选项,包含360°旋转工作台,原子力显微镜模块,光学显微镜,特征区域定位等多种功能模块。

产品特性

  1. 采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率

  2. 测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高

  3. 测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…);

  4. 尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面

  5. 不受样品反射率的影响

  6. 不受环境光的影响

  7. 测量简单,样品无需特殊处理

  8. Z方向,测量范围大:为27mm

主要技术参数

  1. 扫描范围:150mm×150mm(最大可选600mm*600mm)

  2. 扫描步长:0.1μm

  3. 扫描速度:20mm/s

  4. Z方向测量范围:27mm

  5. 方向测量分辨率:2nm

产品应用

    MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发。


产品搜索
 
 
 
 
在线客服
 
 
 
 
 工作时间
周一至周五 :9:00-18:00
周六至周日 :9:30-17:30
 联系方式
热线:18515286999
邮箱:sales@opticsapp.cn