F40系列膜厚仪用于测量小到 1 微米区域的薄膜厚度，它能简单地固定在大多数显微镜的C型转接器上，这样的转接器是显微镜行业的标准配件。F40 集成彩色摄像机，能够对测量点进行准确监控，在 1 秒钟之内就能测定厚度和折射率。
      对于一些拥有NanoSpec™ 180/210系统的客户，经过多年的使用，设备已经老化，F40-NSR则可以利用其中的机械装置进行搭配，组成一套全新的膜厚测量系统，大大节省了客户的费用。