F20 系列是世界畅销的台式薄膜厚度测量系统，只需按下一个按钮，不到一秒钟即可同时测量厚度和折射率。设置也非常简单, 只需把设备连接到您运行Windows™系统的计算机USB端口, 并连接样品平台就可以了。 F20系列不同型号的选择，主要取决于您需要测量的薄膜厚度（确定所需的波长范围）。